应实验室邀请，德国Tim Hellmann博士莅临实验室访问讲学。2023年3月8日上午，Tim Hellmann博士在二楼学术报告厅为实验室师生作了一场主题为“An introduction into how to measure XPS and analyse the data”的学术报告。报告由施德安副院长主持。
光电子能谱（PES）的典型信息深度为10纳米左右，属于表面敏感的表征技术。入射的电磁辐射被材料吸收，以光电子的形式从被检测材料的表面发射出来。根据入射电磁波的不同（X射线或紫外线），可将PES分为XPS（X射线光电子能谱）或UPS（紫外线光电子能谱）。通过发射的光电子的动能可以确定电子从样品材料中移出之前的结合能，从而提供关于样品的信息。XPS主要用于确定被调查材料的化学成分和不同元素的氧化状态。另外，XPS也可用于确定半导体的功函数和费米级位置，以及关于两种不同材料之间的带能排列的信息。
Tim博士详细介绍XPS测试的基本原理以及常用功能，数据分析与图谱处理等。并以他博士工作为例，分享了原位XPS技术在表征钙钛矿太阳能电池材料界面能带信息中的应用。
Tim Hellmann博士毕业于德国TU9联盟高校之一的达姆施塔特工业大学。研究方向为表面科学技术和能源材料。他在铅基和锡基卤化物钙钛矿太阳能电池和界面的原位XPS测试表征方面拥有丰富的经验。Tim博士对中国人民非常友好，他曾参与两个国际交换项目到中国台湾工作学习了一年，并学习了三个月的中文，对中国文化和中华美食很感兴趣。
